使用非接觸式三次元測量儀有（yǒu）什麽產品特點（diǎn）？

　　​非接觸（chù）式三次元測量儀以影像（xiàng）、激光三角、結構光光學傳感器采集三維坐標，不接觸工件表麵，適合薄壁、軟質、易劃傷、微（wēi）小零件、複雜曲麵；部分機型支持接觸測頭 + 非接觸光學測頭複合使用。具體如下（xià）：
無接觸測量（liàng），不損傷工（gōng）件
沒有紅寶石（shí）探針接觸壓力（lì），不會擠壓（yā）、劃傷、壓變形工（gōng）件。
適合：薄壁件、矽膠、橡膠、薄膜、軟質塑膠、微型精密零件、表麵易刮傷鍍層（céng）件，不會產生探針壓（yā）痕。
可采集海量（liàng）三維點雲，擅長曲（qǔ）麵評價
一次掃描獲（huò）取大量點數據，可以和 CAD 模型（xíng）做（zuò）曲麵比對、色差圖、逆向建模，評價輪廓度（dù）、麵型；接觸式三坐標隻能取離散點，曲（qǔ）麵分析效率遠（yuǎn）不如（rú）光學機型。
可測微小、狹窄特征
不受探針直徑限（xiàn）製，微小倒角、細縫隙、細小邊緣，探針伸不進去的位置（zhì），光學可以采集。
測量效率高
白（bái）光結構光全場掃描，單次掃（sǎo）描一片區域；線激光連續掃曲麵，複（fù）雜異形件比接觸式打（dǎ）點速度快很多。
適合軟質、易變形工件
接觸測頭會把薄件頂變形，造成測量失真；非接觸不存在接觸力（lì）帶來的形變誤（wù）差。
一機可複合配置
很多機型支持（chí）複合式：一套設備同時搭（dā）載（zǎi）光學非接觸測頭 + 接（jiē）觸式探針。孔（kǒng）、基準、盲孔用接觸探針；曲麵、薄壁件用光學，兼顧兩者優點。